無局放串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置局放量過高有以下幾個(gè)主要因素:
 

　　一是電路設(shè)計(jì)不合理。串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置的電路設(shè)計(jì)如果不合理,例如組成電路的元器件選擇不當(dāng)或電路連接方式不當(dāng),都可能導(dǎo)致電路內(nèi)部產(chǎn)生較高的雜散電流或電磁干擾,從而增加試驗(yàn)裝置的局放量。

　　二是元器件選擇不當(dāng)。選擇的元器件類型或型號(hào)不合適,例如晶體管的雜散電流過大,或者線圈或者電容器本身具有較高的損耗,都會(huì)增加試驗(yàn)裝置的總功率損耗,造成較高的局放。

　　三是電磁屏蔽不佳。試驗(yàn)裝置在設(shè)計(jì)和制作時(shí),沒有很好地對各組成部分進(jìn)行電磁屏蔽,導(dǎo)致各部分之間存在較強(qiáng)的電磁干擾,增加了系統(tǒng)的總局放量。

　　四是接地和屏蔽處理不當(dāng)。試驗(yàn)裝置在安裝和使用時(shí)沒有完善地對接地和屏蔽進(jìn)行處理,導(dǎo)致產(chǎn)生較多的電磁波干擾現(xiàn)象,從而增加了試驗(yàn)裝置的總局放量。

　　五是環(huán)境條件影響。試驗(yàn)室內(nèi)存在較強(qiáng)的電磁干擾源,或者試驗(yàn)過程中電源質(zhì)量較差,也會(huì)通過耦合等方式增加試驗(yàn)裝置本身的局放量。

　　以上幾點(diǎn)原因,如果能進(jìn)行針對性優(yōu)化,就可以有效降低無局放串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置的總局放量,從而提高試驗(yàn)質(zhì)量和準(zhǔn)確性。